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掃描電子顯微鏡
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JSM-7200F 熱場發(fā)射掃描電子顯微鏡
JSM-7200F的電子光學(xué)系統(tǒng)應(yīng)用了日本電子旗艦機-JSM-7800F Prime采用的浸沒式肖特基電子槍技術(shù),標配了TTLS系統(tǒng)(Through-The-Lens System),因此無論是在高/低加速電壓下,空間分辨率都比傳統(tǒng)機型有了很大的提升。
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JSM-IT500 掃描電子顯微鏡
JSM-IT500是JEOL InTouchScope系列的新機型。從設(shè)定視野到生成報告,用于分析的軟件整合于一體,加快了作業(yè)速度!是一款無縫操作,使用更加方便的掃描電子顯微鏡。
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JED-2300/2300F 能譜儀
JED-2300/2300F Analysis Station是以“圖像觀察和分析“ 為基本理念的TEM/EDS集成系統(tǒng)。通過與SEM的馬達驅(qū)動樣品臺聯(lián)動使用,可以進行大范圍的觀察和分析。EDS通過檢測被電子束激發(fā)出的樣品特征X射線,確定樣品含有的元素及成分比,可以進行微區(qū)的點分析、線分析及面分析。
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Serial Block-face SEM 3View
肖特基場發(fā)射掃描電子顯微鏡能長時間穩(wěn)定地提供高電流下的微細探針,與View?2XP(Gatan公司制造)結(jié)合使用,能對樣品進行自動切割,自動獲取圖像。通過對獲得的圖像進行三維重構(gòu),可以對精細結(jié)構(gòu)進行三維分析。
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JSM-7900F 熱場發(fā)射掃描電子顯微鏡
JEOL新一代場發(fā)射掃描電子顯微鏡的旗艦機型。 它繼承了上一代廣獲好評的性能如極高的空間分辨率、高穩(wěn)定性、多種功能等的同時,操作性能極大簡單化。該設(shè)備不依賴操作者的技能,始終能夠發(fā)揮其最佳性能。
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JSM-IT500HR 掃描電子顯微鏡
JEOL InTouchScope?系列的新機型, 采用新開發(fā)的高亮度電子槍和透鏡系統(tǒng),可以更迅速便捷地提供令人驚嘆的高分辨率圖像、高靈敏度和高空間分辨率;從設(shè)定視野到生成報告,利用完全集成的軟件大大地提高了作業(yè)速度。
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JSM-7610FPlus 熱場發(fā)射掃描電子顯微鏡
廣受好評的JSM-7610F的光學(xué)系統(tǒng)經(jīng)過改進,實現(xiàn)了分辨率15kV 0.8nm、1kV 1.0nm的進一步提升,以嶄新的JSM-7610FPlus形象亮相。采用半浸沒式物鏡和High Power Optics照明系統(tǒng),提供穩(wěn)定的高空間分辨率觀察和分析。此外還具備利用GENTLEBEAMTM模式進行低加速電壓觀察、通過r-filter分選信號等滿足各種需求的高擴展性。
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JSM-IT200 InTouchScope? 掃描電子顯微鏡
JSM-IT200 InTouchScope? 是一款更簡潔、更易于使用且性價比高的掃描電子顯微鏡。
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JCM-7000 NeoScope? 臺式掃描電子顯微鏡
JCM-7000是以"誰都可以操作的SEM/EDS"為理念的臺式掃描電子顯微鏡, 標配Zeromag、Live analysis、 Live 3D功能。新設(shè)置了中文操作界面!(選配件)
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