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IB-19520CCP 截面樣品制備裝置
IB-19520CCP在加工過(guò)程中利用液氮冷卻,能減輕離子束對(duì)樣品造成的熱損傷。冷卻持續(xù)時(shí)間長(zhǎng)、液氮消耗少的構(gòu)造設(shè)計(jì)。在裝有液氮的情況下,也能將樣品快速冷卻、恢復(fù)到室溫,并且可以拆卸。配有傳送機(jī)構(gòu),在隔離空氣的環(huán)境下能完成從加工到觀察的全過(guò)程。
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IB-19530CP 截面樣品制備裝置
為了滿足市場(chǎng)多樣化的需求,IB-19530CP截面拋光儀采用多用途樣品臺(tái),通過(guò)交換各種功能性樣品座實(shí)現(xiàn)了功能的多樣化。
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EM-09100IS 離子切片儀
用于TEM 、STEM 、 SEM 、 EPMA 和 AUGER樣品制備的創(chuàng)新方法離子切片儀制備薄膜樣品比傳統(tǒng)制備工具快速、簡(jiǎn)單。低能量、低角度(0°到6°)的氬離子束通過(guò)遮光帶照射樣品,大大降低了離子束對(duì)樣品的輻照損壞。即使是柔軟的材料,制備的薄膜質(zhì)量也極好,對(duì)不同成份的樣品甚至含有多孔合成物也都能夠有效制備。
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IB-09060CIS? 低溫冷凍離子切片儀
易受熱損傷的樣品,也能方便地制作出薄膜樣品和截面樣品。冷卻保持時(shí)間長(zhǎng),有效地抑制了熱損傷。
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