JSX-1000S型X射線熒光光譜儀采用觸控屏操作、提供更加簡便迅速的元素分析。具備常規(guī)定性、定量分析（FP法?檢量線法）、RoHS元素篩選功能等。利用豐富的硬件/軟件選配件、還能進行更廣泛的分析。
操作簡便
只需安裝樣品，和觸摸屏幕。觸摸操作還可以進行分析結(jié)果與譜圖的顯示切換，操作快感如同使用平板電腦和智能手機一般（利用鍵盤、鼠標也能操作）。
安裝 ＆ 觸摸 操作簡單
GUI界面簡明易懂，操作直觀。
高靈敏度&高通量
JEOL 新開發(fā)的SDD( 硅漂移檢測器) 和新設計的光學系統(tǒng)及可以支持整個能量范圍的濾波器使高靈敏度的分析成為可能。安裝樣品室真空排氣單元( 選配項) 對輕元素可以提高檢測靈敏度
整個能量范圍內(nèi)的高靈敏度分析
使用濾波器（最多9種*） 和樣品室真空排氣單元能夠在整個能量范圍內(nèi)進行高靈敏度的分析。
* Cl、Cu、Mo、Sb 為選配項
微量元素檢測實例（10ppm以下）
提供解決方案
解決方案應用軟件能根據(jù)預先登錄的菜譜自動執(zhí)行所希望的測試分析。
只需從解決方案應用軟件的列表中選擇目標解決方案的圖標，就能輕松獲得分析結(jié)果，可為各種行業(yè)提供簡化的分析。
新開發(fā)的智能FP（基本參數(shù)法）法，不需要準備標樣，并且能自動進行殘留成分和厚度的校正， 獲得高度準確的定量結(jié)果。
（殘留成分和厚度校正功能只支持有機物樣品）
| 厚度 | 校正 | Cr | Zn | Cd | Pb | 自動 平衡 |
| 0.5mm | 無 | 0.008 | 0.037 | 0.001 | 0.002 | 99.76 |
| 3.8mm | 0.012 | 0.109 | 0.004 | 0.006 | 99.64 | |
| 0.5mm | 有 | 0.011 | 0.137 | 0.015 | 0.010 | 99.54 |
| 3.8mm | 0.011 | 0.134 | 0.016 | 0.011 | 99.55 | |
| 標準值 | 0.010 | 0.125 | 0.014 | 0.010 | ||
（mass%）
| 檢測元素范圍 | Mg～U |
| F～U（選配） | |
| X射線發(fā)生裝置 | 5～50 kV , 1mA |
| 靶材 | Rh |
| 一次濾波器 最多9種 自動交換 | 標準：OPEN, ND, Cr, Pb, Cd |
| 選配：Cl, Cu, Mo, Sb | |
| 準直器3種 自動交換 | 0.9mm, 2mm, 9mm |
| 檢測器 | 硅漂移檢測器（SDD） |
| 樣品室尺寸 | 300mmφ×80mmH |
| 樣品室氣氛 | 大氣 / 真空(選配） |
| 樣品室觀察機構(gòu) | 彩色攝像機 |
| 操作用電腦 | Windows® 觸控屏 臺式電腦 |
| 分析軟件（標準） | 定性分析（自動定性、KLM標記、和峰顯示、譜圖檢索） 定量分析（塊狀FP法、檢量線法） RoHS分析解決方案（Cd, Pb,Cr, Br, Hg) 簡易分析解決方案 報告制作軟件 |
| 分析軟件（選配） | 薄膜FP法分析軟件 關(guān)聯(lián)濾波器FP法分析軟件 |
| 日常檢查軟件（標準） | 管球升壓、能量校正、強度校正 |
Windows® 為美國微軟公司在美國或其它國家的注冊商標或商標。
主要附件
樣品室真空排氣單元
多樣品自動交換單元
濾波器組
濾膜FP 法分析軟件
薄膜FP 法分析軟件
和峰消除軟件
鎳鍍層篩選解決方案
錫鍍層篩選解決方案
氯元素篩選解決方案
