JXA-iSP100 電子探針顯微分析儀 電子探針顯微分析儀
          JXA-iSP100在保持高局部微量元素分析性能的同時,追求每個人都能簡單快速地使用好儀器。該儀器能更加有效地進(jìn)行觀察分析和操作,是更先進(jìn)的一體化EPMA。
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          電子探針顯微分析儀在鋼鐵、汽車、電子零件和電池材料等各種工業(yè)領(lǐng)域,作為研究開發(fā)和品質(zhì)保證的分析工具被廣泛使用,其用途越來越廣。此外,在學(xué)術(shù)領(lǐng)域 ,地球空間科學(xué)、材料科學(xué)領(lǐng)域也在廣泛使用,礦物等資源能源研究、各種新型材料研究等,期待在各種各樣前沿研究中做出貢獻(xiàn)。與此相應(yīng),在保持高局部微量元素分析性能的同時,追求每個人都能簡單快速地使用好儀器。JXA-iHP100能更加有效地進(jìn)行觀察分析操作,是更先進(jìn)的一體化EPMA。

          * EPMA是Electron Probe Microanalyzer簡稱


          ◇ [Setting]

          自動定位,準(zhǔn)確安裝樣品臺!迅速找到想觀察的點!

          進(jìn)樣和獲取樣品臺導(dǎo)航像一鍵完成。從導(dǎo)航像能夠指定分析區(qū)域。



          ◇ [Analysis]

          充分的自動功能,誰都可以拍到高級的SEM像

          繁瑣的設(shè)定也能對應(yīng),EPMA立馬進(jìn)行元素分析

          光學(xué)顯微鏡的自動聚焦功能與配備高精度/高速化新系統(tǒng)的SEM自動功能相結(jié)合,任誰都可以拍到高級的SEM像。

          【live Analysis】

          通過【live Analysis】能夠在觀察中進(jìn)行篩選分析。初學(xué)者也能操作的【簡單的EPMA】。用【EPMA-XRF integration】在XRF數(shù)據(jù)的基礎(chǔ)上能夠進(jìn)行EPMA的條件設(shè)定。用【W(wǎng)D/ED integration】能夠縮短分析時間。SEM、EDS、XRF、WDS、光學(xué)像的集成一體化提高了儀器的操作性能。



          通過WD/ED integration,分析時間縮短的例子



          integration:用這些儀器推定的元素在一體化EPMA上可以一鍵設(shè)定分光晶體的組合


          ◇ [Self Maintenance]

          內(nèi)置18種類校正樣品,有效進(jìn)行校正

          配置【分光器校正功能】減輕了定期進(jìn)行分光器校正的作業(yè)而且也避免了校正樣品設(shè)定時的人為失誤;利用夜間對儀器進(jìn)行校正,提高了工作效率。

          按照【維護(hù)通知功能】,在必要時期對儀器進(jìn)行自我維護(hù),保持設(shè)備最佳狀態(tài)。



          維護(hù)通知功能【客戶支持工具】

          檢測元素范圍 WDS: Be*1 / B to U,  EDS: Be to U
          檢測X-ray 范圍 波長范圍WDS: 0.087 to 9.3 nm 能量范圍EDS: 20 keV
          譜儀數(shù) WDS: 最多5個可選,  EDS: 1個
          最大樣品尺寸 100 mm × 100 mm × 50 mm (H)
          加速電壓 0.2 to 30 kV (0.1 kV steps)
          探針電流范圍 1 pA to 10 μA
          探針電流穩(wěn)定性 ± 0.05% / h, ± 0.3% / 12 h(W)
          二次電子像分辨率(觀察模式) 6 nm(W), 5 nm(LaB6)*3
          掃描放大倍率 ×40 to 300,000 (W.D. 11 mm)
          掃描圖像分辨率 Maxium 5,120 × 3,840
          產(chǎn)品系列
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