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          JEM-ARM300F文章:從原子尺度理解缺氧溶解過(guò)程中UO2薄膜表面的演變
          2020-11-17
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          美國(guó)太平洋西北國(guó)家實(shí)驗(yàn)室(PNNL)、劍橋大學(xué)及歐盟委員會(huì)聯(lián)合研究中心的合作小組使用日本電子的原子分辨率球差校正電子顯微鏡JEM-ARM300F,采用STEM-HAADF成像模式、STEM-EDS、STEM-EELS聯(lián)合分析方式從原子尺度揭示了溶液在UO2表面溶解和滲透的復(fù)雜途徑,這是其他方法無(wú)法實(shí)現(xiàn)的。 該論文于2020年8月發(fā)表在ACS Applied Materials & Interfaces,題目為 “An Atomic-Scale Understanding of UO2 Surface Evolution During Anoxic Dissolution ”。



          High-resolution imaging reveals defect formation during anoxic dissolution of UO2 thin films. GIF by Steven Spurgeon | PNNL

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