JIB-4000 聚焦離子束加工觀察系統(tǒng)升級(jí)了，新型號(hào)：JIB-4000PLUS。該設(shè)備為單束FIB裝置，不僅可以對(duì)樣品表面進(jìn)行SIM觀察 、研磨、及碳和鎢等沉積，還可以為TEM制備薄膜樣品和截面樣品；可選3D觀察功能、自動(dòng)TEM樣品制備功能，能對(duì)應(yīng)多種制樣需求。
JIB-4000 聚焦離子束加工觀察系統(tǒng)升級(jí)了，新型號(hào)：JIB-4000PLUS。該設(shè)備為單束FIB裝置，不僅可以對(duì)樣品表面進(jìn)行SIM觀察 、研磨、及碳和鎢等沉積，還可以為TEM制備薄膜樣品和截面樣品；可選3D觀察功能、自動(dòng)TEM樣品制備功能，能對(duì)應(yīng)多種制樣需求。
