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          SUST-JEOL材料微區(qū)分析表征國際研討會
          2020-11-29
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          近幾年來以球差校正電子顯微鏡、冷凍電子顯微鏡、掃描電子顯微鏡、電子探針掃描分析儀、俄歇探針等為代表的電子光學產(chǎn)品在材料微區(qū)分析表征技術(shù)方面取得了突飛猛進的發(fā)展。為了進一步促進這些產(chǎn)品在微區(qū)表征分析中的應用,分享各領(lǐng)域?qū)<依眠@些設備開展高水平的研究成果和使用經(jīng)驗, 日本電子/捷歐路(北京)科貿(mào)有限公司聯(lián)合陜西科技大學、材料原子·分子科學研究所、陜西高校新型智庫于2019年6月11日-12日在陜西科技大學(西安校區(qū))舉辦了“SUST-JEOL材料微區(qū)分析表征研討會暨日本電子陜西省用戶會”。



          本次研討會以材料微區(qū)表征分析為主體,涵蓋最新的球差校正透射電子顯微技術(shù)、冷凍電子顯微技術(shù)、掃描電子顯微技術(shù)、電子探針掃描分析技術(shù)和俄歇探針技術(shù)、聚焦離子束技術(shù)等在尖端科研中的應用和進展,展示令人震撼的實驗成果。同時邀請知名專家開展技術(shù)講座,共同交流,促進相關(guān)技術(shù)的更高層次的發(fā)展。


          本次研討會由捷歐路(北京)科貿(mào)有限公司副總經(jīng)理張曉露先生主持并做會議致辭,促銷部首席應用技術(shù)專家苗澍博士、胡晉生部長攜本部高級應用工程師數(shù)人傾情贊助并帶來精彩紛呈的產(chǎn)品介紹,太原理工大學的郭俊杰教授、陜西科技大學蘇慶梅老師等也為大會做高水平的學術(shù)報告。會后與會老師和同學們參觀球差校正電子顯微鏡(型號JEM-ARM300F)實驗室,大會在祥和的氛圍中圓滿結(jié)束。


          下面是會場花絮


          1. 捷歐路副總經(jīng)理張曉露先生做會議致辭



          2. 捷歐路首席應用技術(shù)專家苗澍博士介紹原子級分辨率透射電子顯微鏡JEM-ARM200F NEOARM



          3. 捷歐路促銷部胡晉生部長介紹電子探針/俄歇探針在微區(qū)表征分析中的應用



          4. 捷歐路首席掃描電鏡工程師陳青山先生介紹低加速電壓在掃描電鏡中的應用



          5. 捷歐路冷凍電鏡工程師張瀅博士介紹冷凍電子顯微技術(shù)的進展及在生命科學中的應用



          6. 捷歐路掃描電鏡工程師席得圣先生介紹聚焦離子束和氬離子拋光在樣品制備中的應用



          7. 太原理工大學郭俊杰教授介紹球差電鏡在低維材料研究中的應用



          8. 陜西科技大學蘇慶梅老師介紹原位透射電鏡在鋰(鈉)離子電池研究中的應用



          9. 參會老師和學生們參觀球差校正電鏡實驗室



          10. 會議圓滿結(jié)束


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