日本電子株式會社(社長 栗原 権右衛(wèi)門)宣布：新型掃描電子顯微鏡JSM-IT200Series開發(fā)了，于2018年3月開始全球銷售。
JSM-IT200Series裝配了和JSM-IT500Series同樣的功能軟件，使用更加簡單容易，作業(yè)效率比JSM-IT100Series提高了35%.
JSM-IT200Series有4種機型可供選擇：標(biāo)準(zhǔn)機型JSM-IT200BU、分析型JSM-IT200A、低真空觀察型JSM-IT200LV、分析型低真空觀察JSM-IT200LA
主要特點：
1. 使用樣品更換導(dǎo)航可以安全簡單地更換樣品。
2. SEM和EDS一體化集成，從觀察到分析順利獲取數(shù)據(jù)。
3. 標(biāo)配具有樣品座圖像、CCD圖像和SEM像聯(lián)動功能的Zeromag，可以直接快速地尋找感興趣的視野。
4. 標(biāo)準(zhǔn)裝配X,Y 2軸馬達臺和蒙太奇功能，可獲取mm級的SEM像和元素分析。
5. 標(biāo)配Live Analysis功能，元素分析效率高。
6. 使用SMILE VIEW? Lab，從觀察到分析的所有數(shù)據(jù)很容易生成數(shù)據(jù)報告。
