JEM-ARM300F GRAND ARM 透射電子顯微鏡 透射電子顯微鏡
          JEM-ARM300F實現(xiàn)了世界最高掃描透射像(STEM-HAADF)分辨率,配備了JEOL自主研發(fā)的球差校正器,最高加速電壓可達300kV,是一款原子級分辨率電子顯微鏡。實現(xiàn)了世界最高的STEM-HAADF像分辨率。
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          實現(xiàn)了世界最高掃描透射像(STEM-HAADF)分辨率
          JEM-ARM300F配備了JEOL自主研發(fā)的球差校正器,最高加速電壓可達300kV,是一款原子級分辨率電子顯微鏡。實現(xiàn)了世界最高的STEM-HAADF像分辨率。

          STEM-HAADF像的保證分辨率達到了前所未有的58pm
          采用JEOL自主研發(fā)的球差校正器,掃描透射像(STEM像)的保證分辨率可達58pm(300kV,超高分辨率極靴、使用STEM球差校正器時)。

          ETA校正器 JEOL自主研發(fā)的12極球差校正器
          ※選配件 ETA校正器(Expanding trajectory aberration corrector)是JEOL研發(fā)的擴展軌道型12極球差校正器??梢栽谟脩衄F(xiàn)場加裝STEM球差校正器及TEM球差校正器。

          強大的冷場發(fā)射電子槍HyperCF300
          標配了全新設(shè)計的冷場發(fā)射電子槍,低能散、高亮度電子束能提供高分辨率觀察和分析。

          兩種物鏡極靴
          為了支持用戶廣泛的需求,研發(fā)了兩種各具特點的物鏡極靴。

          豐富的選購件
          能安裝超大立體角EDS(能譜儀)、EELS(電子能量損失譜儀)、背散射電子檢測器及四種STEM觀察檢測器。

          大范圍的加速電壓設(shè)置
          標配300kV和80kV下的球差校正數(shù)據(jù),可選的加速電壓范圍從40KV?300kV,使用范圍極廣。

          新開發(fā)的真空系統(tǒng)
          新的排氣系統(tǒng)達到了極高的真空度,在原子尺度的圖像觀察和分析中,最大限度地減輕了對樣品的污染和損傷。

          高穩(wěn)定的鏡筒和樣品臺
          整體穩(wěn)定性高、直徑330mm的鏡筒增加了機械剛度, 在JEM-ARM200F高度穩(wěn)定的技術(shù)基礎(chǔ)之上,把電氣穩(wěn)定性和對環(huán)境的抗干擾能力提高到新高度。
          分辨率 300 kV,80 kV
          物鏡種類※1 UHR極靴 HR極靴
          STEM分辨率(300kV) 使用STEM校正器 0.058nm 0.063nm
          TEM分辨率(300 kV) 線分辨率0.05nm 線分辨率0.06nm
          使用TEM校正器 非線性信息分辨極限0.06nm 非線性信息分辨極限0.07nm
          線性信息分辨極限0.09nm 線性信息分辨極限0.12nm
          產(chǎn)品系列
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