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JEM-ARM300F GRAND ARM 透射電子顯微鏡
透射電子顯微鏡
JEM-ARM300F實現(xiàn)了世界最高掃描透射像(STEM-HAADF)分辨率,配備了JEOL自主研發(fā)的球差校正器,最高加速電壓可達300kV,是一款原子級分辨率電子顯微鏡。實現(xiàn)了世界最高的STEM-HAADF像分辨率。
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產(chǎn)品特性
規(guī)格參數(shù)
應(yīng)用案例
實現(xiàn)了世界最高掃描透射像(STEM-HAADF)分辨率
JEM-ARM300F配備了JEOL自主研發(fā)的球差校正器,最高加速電壓可達300kV,是一款原子級分辨率電子顯微鏡。實現(xiàn)了世界最高的STEM-HAADF像分辨率。
STEM-HAADF像的保證分辨率達到了前所未有的58pm
采用JEOL自主研發(fā)的球差校正器,掃描透射像(STEM像)的保證分辨率可達58pm(300kV,超高分辨率極靴、使用STEM球差校正器時)。
ETA校正器 JEOL自主研發(fā)的12極球差校正器
※選配件 ETA校正器(Expanding trajectory aberration corrector)是JEOL研發(fā)的擴展軌道型12極球差校正器??梢栽谟脩衄F(xiàn)場加裝STEM球差校正器及TEM球差校正器。
強大的冷場發(fā)射電子槍HyperCF300
標配了全新設(shè)計的冷場發(fā)射電子槍,低能散、高亮度電子束能提供高分辨率觀察和分析。
兩種物鏡極靴
為了支持用戶廣泛的需求,研發(fā)了兩種各具特點的物鏡極靴。
豐富的選購件
能安裝超大立體角EDS(能譜儀)、EELS(電子能量損失譜儀)、背散射電子檢測器及四種STEM觀察檢測器。
大范圍的加速電壓設(shè)置
標配300kV和80kV下的球差校正數(shù)據(jù),可選的加速電壓范圍從40KV?300kV,使用范圍極廣。
新開發(fā)的真空系統(tǒng)
新的排氣系統(tǒng)達到了極高的真空度,在原子尺度的圖像觀察和分析中,最大限度地減輕了對樣品的污染和損傷。
高穩(wěn)定的鏡筒和樣品臺
整體穩(wěn)定性高、直徑330mm的鏡筒增加了機械剛度, 在JEM-ARM200F高度穩(wěn)定的技術(shù)基礎(chǔ)之上,把電氣穩(wěn)定性和對環(huán)境的抗干擾能力提高到新高度。
分辨率
300 kV,80 kV
物鏡種類※1
UHR極靴
HR極靴
STEM分辨率(300kV) 使用STEM校正器
0.058nm
0.063nm
TEM分辨率(300 kV)
線分辨率0.05nm
線分辨率0.06nm
使用TEM校正器
非線性信息分辨極限0.06nm
非線性信息分辨極限0.07nm
線性信息分辨極限0.09nm
線性信息分辨極限0.12nm
產(chǎn)品系列
JEM-F200 場發(fā)射透射電子顯微鏡
以節(jié)能環(huán)保、減排低碳為理念開發(fā)的JEM-F200場發(fā)射透射電子顯微鏡,不僅提高了空間分辨率和分析性能,還采用了新的操作系統(tǒng)可滿足多種使用途徑,易用性強,外觀設(shè)計精煉,能為不同層次的用戶提供新奇的操作體驗。
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JEM-1000 超高壓透射電子顯微鏡
由于超高壓透射電子顯微鏡的加速電壓很高電子波長很短,即使增大物鏡極靴之間的間隙,也能獲得高分辨率的圖像。此外,電子束具有很強的穿透能力,即使厚樣品也能觀察到清晰的圖像,這是超高壓透射電子顯微鏡的最大優(yōu)點。
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JEM-2100Plus 透射電子顯微鏡
JEM-2100Plus電子顯微鏡,不僅擁有信譽卓著的JEM-2100 的電子光學系統(tǒng),還增加了最新的控制系統(tǒng),大幅提高了可操作性。 多功能電子顯微鏡JEM-2100Plus性能優(yōu)越,操作方便,簡明易懂,在材料、醫(yī)學、生物學等多個研究領(lǐng)域提供優(yōu)異的解決方案。
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JEM-3200FS 場發(fā)射透射電子顯微鏡
JEM-3200FS場發(fā)射電子顯微鏡配備了最高加速電壓為300kV的場發(fā)射電子槍(FEG)和鏡筒內(nèi)置式Ω型能量過濾器,能為廣泛的研究領(lǐng)域提供各種全新的解決方案。
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EM-05500TGP TEM斷層掃描系統(tǒng)
TEM斷層掃描系統(tǒng)采用獨特算法的軟件,實現(xiàn)了從獲取連續(xù)傾斜圖像到三維重構(gòu)整個過程的自動化。
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JED-2300T 能譜儀
JED-2300T AnalysisStation是以“圖像觀察和分析”為基本理念的TEM/EDS集成系統(tǒng)。在分析數(shù)據(jù)過程中,自動采集電鏡主機的倍率、加速電壓等參數(shù),進行數(shù)據(jù)管理。
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