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透射電子顯微鏡
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JEM-ARM200F NEOARM 原子級分辨率透射電子顯微鏡
“NEOARM” 標(biāo)配了日本電子獨(dú)自開發(fā)的冷場發(fā)射電子槍（Cold-FEG）和全新的高階球差校正器（ASCOR）。無論是在200kV的高加速電壓還是在30kV的低加速電壓下，均能實現(xiàn)原子級分辨率的觀察與分析。同時還配備了自動像差校正系統(tǒng)，可以自動進(jìn)行快速準(zhǔn)確的像差校正。新STEM成像技術(shù)（e-ABF法）可以更加簡便地觀察到含有輕元素樣品的高清晰（襯度）圖像。
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JEM-Z300FSC 場發(fā)射冷凍電子顯微鏡
場發(fā)射冷凍電子顯微鏡JEM-Z300FSC (CRYO ARM? 300)配備了冷場發(fā)射電子槍、柱體內(nèi)能量過濾器(Ω能量過濾器)、側(cè)插式液氮冷卻樣品臺和自動樣品交換系統(tǒng)，能夠在冷凍低溫下觀察生物大分子。樣品交換系統(tǒng)內(nèi)最多可以存儲12個樣品，可以任意取出和交換一個或數(shù)個樣品，能靈活地進(jìn)行測試排序。
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JEM-ACE200F 高效分析型電子顯微鏡
JEM-ACE200F將JEM-ARM200F和JEM-F200的硬件技術(shù)整合在一起，實現(xiàn)了高度穩(wěn)定性和高分辨率，以精煉的外觀設(shè)計呈現(xiàn)。該設(shè)備做成了操作流程菜單，按照該菜單，操作人員即使不直接操作設(shè)備也能采集到數(shù)據(jù)。
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JEM-ARM300F2 原子分辨率分析型電子顯微鏡
JEM-ARM300F2是GRAND ARMTM的第二代產(chǎn)品，該設(shè)備在性能上有了進(jìn)一步的提高，無論采用怎樣的加速電壓都能獲得超高空間分辨率圖像和高靈敏度的元素分析。
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JEM-2100 時間分辨電子顯微鏡及相關(guān)附件
JEOL IDES 產(chǎn)品：飛秒級時間分辨率電子顯微鏡及其相關(guān)附屬設(shè)備。
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CRYO ARM? 300 II (JEM-3300) 場發(fā)射冷凍透射電子顯微鏡
CRYO ARM? 300 II 是一款低溫冷凍透射電子顯微鏡，專門用于觀察如蛋白質(zhì)等對電子束敏感的樣品，可進(jìn)行單顆粒分析、斷層掃描和MicroED等實驗。與上一代CRYO ARM? 300相比，具有更高的穩(wěn)定性、效率和易用性。此外，該系統(tǒng)集多種功能于一體，可以處理從篩樣到數(shù)據(jù)采集的整個過程，從而更靈活地為客戶實現(xiàn)量身定做的使用體驗。這些改進(jìn)使用戶可以通過簡單的操作獲得高質(zhì)量的圖像，初學(xué)者也可輕松上手。
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SightSKY Camera 光纖耦合CMOS相機(jī)
高靈敏度、低噪聲1900萬像素CMOS傳感器成像更清晰，可在低電子劑量下呈現(xiàn)樣品細(xì)節(jié)。 全局快門和高幀率（58 fps/全像素模式）設(shè)計使其在動態(tài)觀察過程中原位采集圖像?！癝ightX”攝像系統(tǒng)控制軟件簡單易用。
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