JEM-ACE200F 高效分析型電子顯微鏡 透射電子顯微鏡
          JEM-ACE200F將JEM-ARM200F和JEM-F200的硬件技術(shù)整合在一起,實(shí)現(xiàn)了高度穩(wěn)定性和高分辨率,以精煉的外觀設(shè)計(jì)呈現(xiàn)。該設(shè)備做成了操作流程菜單,按照該菜單,操作人員即使不直接操作設(shè)備也能采集到數(shù)據(jù)。
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          ◇ 裝置主體


          ● 可配置Cs校正器和CFEG


          ● 高速高精度的stage    與現(xiàn)有的馬達(dá)驅(qū)動(dòng)控制相比速度上提高了3倍、具備與Piezo驅(qū)動(dòng)控制同等效力的微動(dòng)控制能力。


          ◇ 操作簡單


          ● 即使TEM的操作經(jīng)驗(yàn)少也能直接操作設(shè)備


            · 大量減少使用操作盤,直接按順序點(diǎn)擊顯示畫面上的按鈕就能得到最終的圖像


            · 也可以用鼠標(biāo)來進(jìn)行調(diào)焦等操作


            · 可以兼容GATAN CCD


          ● 自動(dòng)調(diào)整功能


            · 自動(dòng)聚焦、自動(dòng)調(diào)整樣品高度、自動(dòng)電子束傳遞、自動(dòng)定位等


          ◇ 自動(dòng)獲取數(shù)據(jù)的功能


          ●按照操作菜單可自動(dòng)獲取數(shù)據(jù)


            · TEM像、STEM像、元素面分布


            · 可以對(duì)應(yīng)柵格上的多個(gè)樣品


          ◇ 和測(cè)長軟件鏈接


          ● 在TEM上設(shè)定倍率可以對(duì)其他倍率進(jìn)行校正


             · 可以對(duì)多臺(tái)JEM-ACE200F取得的數(shù)據(jù)自動(dòng)測(cè)長


          ◇ 遠(yuǎn)程操作


          ● 可在隔壁房間操作設(shè)備


          ● 遠(yuǎn)程操作及多地同時(shí)觀察(依賴于網(wǎng)絡(luò)環(huán)境)


            · 可與多個(gè)事務(wù)所一邊討論一邊觀察  


          ◇ 封閉鏡筒,使環(huán)境耐受性提高


          ● 噪音、氣流、室溫變化得到了抑制


          ● 內(nèi)壁裝有吸音材料,可進(jìn)一步防噪音


          ◇ 從分析儀器到分析工具


          -STEM/TEM分析自動(dòng)化、改進(jìn)操作流程、品質(zhì)管理穩(wěn)定提高-


          產(chǎn)品系列
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