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2021-01-02 00:00:00
JEOL冷凍透射電子顯微鏡刷新世界紀(jì)錄
大阪大學(xué)kato教授在2019年2月5日的推特上發(fā)布信息,日本電子冷凍透射電子顯微鏡JEM-Z300FSC刷新世界紀(jì)錄,獲得1.55埃的高分辨率,JEOL CRYO ARM是Titan Krios的非常強(qiáng)的競爭對手。
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2020-12-25 00:00:00
JCM-7000出展公安系統(tǒng)毒物理化檢驗(yàn)技術(shù)內(nèi)部交流會(huì)
借助代理商“北京培科技術(shù)有限公司”的平臺,JEOL 臺式掃描電子顯微鏡JCM-7000出展全國公安系統(tǒng)毒物理化檢驗(yàn)技術(shù)內(nèi)部交流會(huì),參加了為期5天的展示宣傳工作。全國毒物理化檢驗(yàn)技術(shù)培訓(xùn)班是各省、自治區(qū)、直轄市公安廳、局每年舉辦一次的加強(qiáng)刑事技術(shù)專業(yè)能力建設(shè),提高刑事技術(shù)隊(duì)伍的實(shí)戰(zhàn)本領(lǐng)的專業(yè)技術(shù)培訓(xùn)班。本次共有27個(gè)省近百家公安刑偵單位參加培訓(xùn)。前來參展的設(shè)備廠商首先是公安系統(tǒng)認(rèn)證的分析儀器設(shè)備供應(yīng)
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2020-12-11 00:00:00
新型熱場發(fā)射掃描電子顯微鏡JSM-F100上市
日本電子株式會(huì)社(總裁:大井泉)宣布:新型熱場發(fā)射掃描電子顯微鏡JSM-F100于2019年8月開始銷售JSM-F100集成了備受推崇的In-lens Schottky Plus Gun(浸沒式肖特基場發(fā)射電子槍)和電子光學(xué)控制系統(tǒng)Neo Engine,還集成了一個(gè)新開發(fā)的操作GUI“SEM Center”和一個(gè)創(chuàng)新的Live-AI filter(實(shí)時(shí)圖像視覺增強(qiáng)器人工智能過濾器), 實(shí)現(xiàn)了高空間
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2020-12-06 00:00:00
生物大分子三維結(jié)構(gòu)解析新方法
要點(diǎn)1. 常規(guī)的單顆粒分析技術(shù)是將目標(biāo)分子從生物膜內(nèi)取出來進(jìn)行分析,而膜內(nèi)真實(shí)環(huán)境下很難對大分子的結(jié)構(gòu)做解析。2. IBSA (Image Based Structure Analysis)方法實(shí)現(xiàn)了在真實(shí)生存環(huán)境下膜內(nèi)大分子的結(jié)構(gòu)解析。3. 此方法的開發(fā),期待冷凍電鏡在生物功能分析和制藥研究方面做出大的貢獻(xiàn)。IBS
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2020-12-05 00:00:00
新型電子探針顯微分析儀 JXA-iHP200F and JXA-iSP100發(fā)布
日本電子株式會(huì)社(JEOL Ltd.,總裁:大井 泉)宣布于2019年11月推出新型肖特基式(Schottky)場發(fā)射電子探針顯微分析儀JXA-iHP200F和新型鎢/ LaB6電子探針顯微分析儀JXA-iSP100.開發(fā)背景電子探針顯微分析儀(EPMAs)作為研究和分析工具被廣泛用于鋼鐵、汽車、電子零件和電池材料等工業(yè)領(lǐng)域。此外,在學(xué)術(shù)領(lǐng)域 ,EPMAs用于地球空間科學(xué)、材料科學(xué)領(lǐng)域,不僅涵蓋礦
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2020-12-05 00:00:00
JEM-ARM200F成功解析出化學(xué)反應(yīng)中微量中間體的真實(shí)結(jié)構(gòu)
東京大學(xué)大學(xué)院理學(xué)系研究科化學(xué)專業(yè)的中村栄一特聘教授、原野幸治特聘副教授的研究小組使用JEOL制造的原子分辨率透射電子顯微鏡(型號JEM-ARM200F)成功地解析出化學(xué)反應(yīng)中微量中間體的真實(shí)結(jié)構(gòu),該論文于2019年8月23日發(fā)表在「Nature Communications」. 具體詳情請登錄下面網(wǎng)址閱讀:論文題目:Atomistic structures and dynamics
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2020-12-04 00:00:00
88年知識的集大成,劃時(shí)代的電子顯微鏡開發(fā)成功
概要◆ 原理上,磁鐵、鋼鐵等磁性樣品放入強(qiáng)磁場中內(nèi)部結(jié)構(gòu)被破壞,電子顯微鏡很難觀察到原子構(gòu)造?!?在顯微鏡的心臟設(shè)計(jì)了新的透鏡(專利),將樣品上的磁場幾乎降為0,成功地直接觀察到電磁鋼板的原子構(gòu)造?!?期待成為電動(dòng)車上使用的永久磁鐵、電磁鋼板、高密度磁性記錄介質(zhì)等優(yōu)秀磁性材料的研究開發(fā)中不可或缺的高端計(jì)測設(shè)備。在JST 尖端計(jì)測分析技術(shù)?設(shè)備開發(fā)program,
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2020-12-03 00:00:00
2019年第一期場發(fā)射透射電子顯微鏡培訓(xùn)班紀(jì)要
為了加強(qiáng)用戶交流,提高透射電子顯微鏡的操作水平,促進(jìn)電子顯微鏡市場的蓬勃發(fā)展,公司于2019年6月4日至6月6日在捷歐路北京演示中心進(jìn)行了為期三天的場發(fā)射透射電子顯微鏡培訓(xùn)。培訓(xùn)班以透射電子顯微鏡JEM-F200為操作機(jī)型,由JEOL應(yīng)用工程師王凱先生、胡偉偉先生擔(dān)任主講,共有8名學(xué)員參加。此次培訓(xùn)采用理論授課和上機(jī)實(shí)踐相結(jié)合的教學(xué)方式,過程緊張而又充實(shí),在課間休息時(shí)學(xué)員們還參觀了場發(fā)射掃描電鏡和
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2020-12-02 00:00:00
新型場發(fā)射掃描電子顯微鏡 JSM-IT800 發(fā)布
日本電子株式會(huì)社(代表取締役社長兼COO 大井 泉)宣布新型場發(fā)射掃描電子顯微鏡 JSM-IT800 于2020年5月開始全球銷售。開發(fā)背景掃描電子顯微鏡廣泛用于納米技術(shù)、金屬、半導(dǎo)體、陶瓷、醫(yī)學(xué)、生物學(xué)等各種領(lǐng)域,從基礎(chǔ)研究到工廠的品質(zhì)管理等越來越多的用途在擴(kuò)展。設(shè)備具有高清晰圖像的數(shù)據(jù)采集和簡便的元素分析的需求很高。新開發(fā)的 JSM-IT800 具備高分辨觀察和高速元素面分析,能夠滿足客戶的各
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