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EM-09100IS 離子切片儀

用于TEM 、STEM 、 SEM 、 EPMA 和 AUGER樣品制備的創(chuàng)新方法離子切片儀制備薄膜樣品比傳統(tǒng)制備工具快速、簡單。低能量、低角度（0°到6°）的氬離子束通過遮光帶照射樣品，大大降低了離子束對樣品的輻照損壞。即使是柔軟的材料,制備的薄膜質(zhì)量也極好，對不同成份的樣品甚至含有多孔合成物也都能夠有效制備。

IB-09060CIS?　低溫冷凍離子切片儀

易受熱損傷的樣品，也能方便地制作出薄膜樣品和截面樣品。冷卻保持時間長，有效地抑制了熱損傷。

Serial Block-face SEM 3View

肖特基場發(fā)射掃描電子顯微鏡能長時間穩(wěn)定地提供高電流下的微細探針，與View?2XP（Gatan公司制造）結(jié)合使用，能對樣品進行自動切割，自動獲取圖像。通過對獲得的圖像進行三維重構(gòu)，可以對精細結(jié)構(gòu)進行三維分析。

JSM-7900F 熱場發(fā)射掃描電子顯微鏡

JEOL新一代場發(fā)射掃描電子顯微鏡的旗艦機型。它繼承了上一代廣獲好評的性能如極高的空間分辨率、高穩(wěn)定性、多種功能等的同時，操作性能極大簡單化。該設(shè)備不依賴操作者的技能，始終能夠發(fā)揮其最佳性能。

JSM-IT500HR 掃描電子顯微鏡

JEOL InTouchScope?系列的新機型, 采用新開發(fā)的高亮度電子槍和透鏡系統(tǒng)，可以更迅速便捷地提供令人驚嘆的高分辨率圖像、高靈敏度和高空間分辨率；從設(shè)定視野到生成報告，利用完全集成的軟件大大地提高了作業(yè)速度。

JSM-7610FPlus 熱場發(fā)射掃描電子顯微鏡

廣受好評的JSM-7610F的光學(xué)系統(tǒng)經(jīng)過改進，實現(xiàn)了分辨率15kV 0.8nm、1kV 1.0nm的進一步提升，以嶄新的JSM-7610FPlus形象亮相。采用半浸沒式物鏡和High Power Optics照明系統(tǒng)，提供穩(wěn)定的高空間分辨率觀察和分析。此外還具備利用GENTLEBEAMTM模式進行低加速電壓觀察、通過r-filter分選信號等滿足各種需求的高擴展性。

JSM-IT200 InTouchScope? 掃描電子顯微鏡

JSM-IT200 InTouchScope? 是一款更簡潔、更易于使用且性價比高的掃描電子顯微鏡。

JCM-7000 NeoScope? 臺式掃描電子顯微鏡

JCM-7000是以"誰都可以操作的SEM/EDS"為理念的臺式掃描電子顯微鏡，標(biāo)配Zeromag、Live analysis、 Live 3D功能。新設(shè)置了中文操作界面！(選配件)

JSM-F100 熱場發(fā)射掃描電子顯微鏡

JSM-F100集成了備受推崇的In-lens Schottky Plus Gun和電子光學(xué)控制系統(tǒng)Neo Engine，一個新開發(fā)的操作GUI“SEM Center”和一個創(chuàng)新的Live-AI filter, 實現(xiàn)了高空間分辨率成像觀察和高可操作性。JSM-F100的工作效率比之前的JSM-7000系列高50%或更高。

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