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掃描電子顯微鏡
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JSM-F100 熱場發(fā)射掃描電子顯微鏡
JSM-F100集成了備受推崇的In-lens Schottky Plus Gun和電子光學(xué)控制系統(tǒng)Neo Engine，一個新開發(fā)的操作GUI“SEM Center”和一個創(chuàng)新的Live-AI filter, 實現(xiàn)了高空間分辨率成像觀察和高可操作性。JSM-F100的工作效率比之前的JSM-7000系列高50%或更高。
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JSM-IT800 熱場發(fā)射掃描電子顯微鏡
JSM-IT800具備高分辨觀察和高速元素面分析，能夠滿足客戶的各種需求。該裝置配備浸沒式肖特基場發(fā)射電子槍、新一代電子光學(xué)控制系統(tǒng)Neo Engine、一體化EDS、易用的操作導(dǎo)航SEM Center、及可置換的物鏡模塊。
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JSM-IT700HR InTouchScopet? 熱場發(fā)射掃描電子顯微鏡
日常使用的SEM，好用！該設(shè)備最高分辨率1nm、最大探針電流300nA（之前的15倍），可提供豐富的觀測和分析信息，用戶界面操作簡單、設(shè)計緊湊、配備大樣品室。
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JSM-IT510 InTouchScope? 掃描電子顯微鏡
掃描電子顯微鏡 (SEM) 不僅是開展科研工作所必不可少的工具，對于需要品控的制造工廠也是不可或缺的。 在這些場景中，用戶需要重復(fù)執(zhí)行相同的觀察操作，因此快速完成這些操作有助于提高工作效率。JSM-IT510 新增的“簡單 SEM”功能，用戶可將 SEM 觀察所需的“手動重復(fù)操作交給它”，從而更高效、更輕松地完成 SEM 觀察。
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