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JEM-ARM300F GRAND ARM 透射電子顯微鏡
JEM-ARM300F實現(xiàn)了世界最高掃描透射像(STEM-HAADF)分辨率，配備了JEOL自主研發(fā)的球差校正器，最高加速電壓可達300kV，是一款原子級分辨率電子顯微鏡。實現(xiàn)了世界最高的STEM-HAADF像分辨率。
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JEM-F200 場發(fā)射透射電子顯微鏡
以節(jié)能環(huán)保、減排低碳為理念開發(fā)的JEM-F200場發(fā)射透射電子顯微鏡，不僅提高了空間分辨率和分析性能，還采用了新的操作系統(tǒng)可滿足多種使用途徑，易用性強，外觀設(shè)計精煉，能為不同層次的用戶提供新奇的操作體驗。
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JEM-1000 超高壓透射電子顯微鏡
由于超高壓透射電子顯微鏡的加速電壓很高電子波長很短，即使增大物鏡極靴之間的間隙，也能獲得高分辨率的圖像。此外，電子束具有很強的穿透能力，即使厚樣品也能觀察到清晰的圖像，這是超高壓透射電子顯微鏡的最大優(yōu)點。
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JEM-2100Plus 透射電子顯微鏡
JEM-2100Plus電子顯微鏡，不僅擁有信譽卓著的JEM-2100 的電子光學(xué)系統(tǒng)，還增加了最新的控制系統(tǒng)，大幅提高了可操作性。 多功能電子顯微鏡JEM-2100Plus性能優(yōu)越，操作方便，簡明易懂，在材料、醫(yī)學(xué)、生物學(xué)等多個研究領(lǐng)域提供優(yōu)異的解決方案。
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JEM-3200FS 場發(fā)射透射電子顯微鏡
JEM-3200FS場發(fā)射電子顯微鏡配備了最高加速電壓為300kV的場發(fā)射電子槍（FEG）和鏡筒內(nèi)置式Ω型能量過濾器，能為廣泛的研究領(lǐng)域提供各種全新的解決方案。
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EM-05500TGP TEM斷層掃描系統(tǒng)
TEM斷層掃描系統(tǒng)采用獨特算法的軟件，實現(xiàn)了從獲取連續(xù)傾斜圖像到三維重構(gòu)整個過程的自動化。
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JED-2300T 能譜儀
JED-2300T AnalysisStation是以“圖像觀察和分析”為基本理念的TEM/EDS集成系統(tǒng)。在分析數(shù)據(jù)過程中，自動采集電鏡主機的倍率、加速電壓等參數(shù)，進行數(shù)據(jù)管理。
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JEM-1400Flash 透射電子顯微鏡
JEM-1400Flash配備了高靈敏度sCMOS相機、超廣視野的蒙太奇系統(tǒng)以及光學(xué)顯微鏡圖像的聯(lián)動功能，是一款新型的高通量、高分辨率 的120kV透射電子顯微鏡。
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JEM-Z200FSC 場發(fā)射冷凍電子顯微鏡
場發(fā)射冷凍電子顯微鏡 JEM-Z200FSC CRYO ARM 200標配冷場發(fā)射電子槍、柱體內(nèi)能量過濾器（Ω能量過濾器）、液氮冷卻樣品臺和12位自動樣品更換系統(tǒng)。新設(shè)計的Ω能量過濾器與無孔位相板的完美組合，進一步提高了生物樣品的襯度。
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