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2023-10-19 14:34:32
新一代InTouchScope系列掃描電鏡JSM-IT500上市
JEOL推出新一代InTouchScope系列掃描電鏡 JSM-IT500。該電鏡從視野設(shè)定、報告生成及分析軟件整合于一體，使工作效率有所提高，是一款無縫操作、使用更加方便的掃描電子顯微鏡。該電鏡有以下幾個關(guān)鍵點：關(guān)鍵點1 Zeromag從樣品座圖形和CCD圖像上可以尋找視野和指定分析位置。尋找視野非常輕松，指定多視野連續(xù)分析的位置也很容易。關(guān)鍵點2 實時分析 (僅限于A/
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2023-10-19 14:33:59
JEOL 場發(fā)射冷凍電子顯微鏡JEM-Z200FSC上市
日本電子株式會社（社長栗原權(quán)右衛(wèi)門）宣布：新型場發(fā)射冷凍電子顯微鏡JEM-Z200FSC (CRYO ARM? 200)于2017年4月開始全球銷售開發(fā)背景冷凍電子顯微鏡被確定為在無固定、無染色狀態(tài)下觀察細胞和生體分子的有效方法。隨著近年來硬件和軟件的快速發(fā)展，原子級構(gòu)造解析方法越來越重要。由于在非結(jié)晶化膜蛋白質(zhì)解析技術(shù)介入的結(jié)果及藥物研發(fā)觀點方面寄予的高期待，加速了大學、研究機構(gòu)等領(lǐng)域?qū)υ摲N
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2023-10-19 14:33:15
最新球差校正透射電子顯微鏡JEM-ARM200F ＂NEOARM＂發(fā)布
日本電子株式會社（社長栗原権右衛(wèi)門）宣布：新型原子分辨率分析型電子顯微鏡JEM-ARM200F “NEOARM”開發(fā)了，于2017年6月開始全球銷售。開發(fā)背景現(xiàn)在，配備球差校正器的透射電子顯微鏡幾乎已成為高端研究場所的標準配置，本公司已經(jīng)向全世界輸送了近200臺球差校正透射電鏡。近年來，含輕元素和不耐電子束輻照等材料的高分辨觀察需求加速，且隨著球差校正電鏡的普及，操作更加簡單的呼聲越來越強烈
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2023-10-19 14:32:36
新型熱場發(fā)射掃描電子顯微鏡JSM-7900F上市
日本電子株式會社（社長栗原権右衛(wèi)門）宣布：新型熱場發(fā)射掃描電子顯微鏡JSM-7900F于2017年5月開始全球銷售。開發(fā)背景納米技術(shù)、金屬、半導體、陶瓷及醫(yī)學生物學等各種各樣領(lǐng)域里，掃描電子顯微鏡被活用，而且它的用途越來越廣。隨著高端材料構(gòu)造的微細化，高分辨下觀察變得必要，同時更簡單地獲取高效觀察和分析數(shù)據(jù)的要求也越來越高。為了對應(yīng)這些需要，JSM-7900F不再依賴操作的技能和經(jīng)驗，就能發(fā)
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2023-10-19 14:31:17
新型電子顯微鏡JEM-1400Flash上市
日本電子株式會社(社長栗原権右衛(wèi)門)宣布：新型電子顯微鏡JEM-1400Flash開發(fā)了，于2017年5月開始全球銷售。開發(fā)背景從生物技術(shù)到納米技術(shù)、高分子到最高端的材料，電子顯微鏡在很寬的領(lǐng)域里被活用，而且它的用途越來越廣。其中，在生物領(lǐng)域和高分子材料的觀察中，多數(shù)都是首先用低倍率觀察細胞組織和材料結(jié)構(gòu)的整體樣子，在此基礎(chǔ)上用高倍率詳細觀察感興趣的微細結(jié)構(gòu)。近年來，這一連串的觀察程序簡單化及
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2023-10-19 14:30:30
JEOL 300kV場發(fā)射冷凍電子顯微鏡JEM-Z300FSC發(fā)布
日本電子株式會社（社長栗原権右衛(wèi)門）宣布：最新場發(fā)射冷凍電子顯微鏡JEM-Z300FSC (CRYO ARM? 300)于2017年6月開始全球銷售開發(fā)背景隨著冷凍電子顯微鏡解析病毒和蛋白質(zhì)的結(jié)構(gòu)漸漸接近原子級水平，軟件和硬件上也追求更高的穩(wěn)定性。日本電子株式會社繼CRYO ARM? 200之后又開發(fā)了300kV冷凍電子顯微鏡CRYO ARM? 300，該電鏡將分辨率和穩(wěn)定性
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2023-10-19 14:30:00
JEOL 新型掃描電子顯微鏡 JSM-IT500HR 上市
日本電子株式會社（社長栗原権右衛(wèi)門)宣布：新型高通量掃描電子顯微鏡JSM-IT500HR從2017年8月開始全球銷售?JSM-IT500HR在性能和易用性上與本社舊機型相比作業(yè)效率提高了40%以上。JSM-IT500HR 掃描電鏡有兩種型號：標配低真空觀察功能的JSM-IT500HR/LV和標配EDS的JSM-IT500HR/LA 。主要特點1. 高亮度電子槍實現(xiàn)了高清觀察和高空間
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2023-10-19 14:29:46
以密西根大學為首的共同研究小組的論文在J.Phys.Chem.B上發(fā)表
美國密西根大學、日本理研CLST-JEOL聯(lián)合中心及JEOL Resonance國際共同研究小組的論文在「The Journal of Physical Chemistry B」上發(fā)表。論文題目：3D Double-Quantum/Double-Quantum Exchange Spectroscopy of Protons under 100 kHz Magic Angle SpinningDO
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2023-10-19 14:29:04
超高分辨熱場發(fā)射掃描電子顯微鏡JSM-7610FPlus上市
日本電子株式會社（社長栗原權(quán)右衛(wèi)門）宣布：超高分辨熱場發(fā)射掃描電子顯微鏡JSM-7610F升級為JSM-7610FPlus,于2017年9月開始全球銷售。開發(fā)背景掃描電子顯微鏡被廣泛應(yīng)用在納米技術(shù)、金屬、半導體、陶瓷及醫(yī)學生物學等各種各樣領(lǐng)域里，而且它的用途越來越廣。為了對應(yīng)在高分辨條件下的材料微細結(jié)構(gòu)解析，提高JSM-7610F的分辨率，對電子光學系統(tǒng)做了重新研究。半浸沒式物鏡和大電流下高穩(wěn)
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