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JSM-IT800 熱場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡
JSM-IT800具備高分辨觀察和高速元素面分析，能夠滿足客戶的各種需求。該裝置配備浸沒(méi)式肖特基場(chǎng)發(fā)射電子槍、新一代電子光學(xué)控制系統(tǒng)Neo Engine、一體化EDS、易用的操作導(dǎo)航SEM Center、及可置換的物鏡模塊。
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JSM-IT700HR InTouchScopet? 熱場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡
日常使用的SEM，好用！該設(shè)備最高分辨率1nm、最大探針電流300nA（之前的15倍），可提供豐富的觀測(cè)和分析信息，用戶界面操作簡(jiǎn)單、設(shè)計(jì)緊湊、配備大樣品室。
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JSM-IT510 InTouchScope? 掃描電子顯微鏡
掃描電子顯微鏡 (SEM) 不僅是開展科研工作所必不可少的工具，對(duì)于需要品控的制造工廠也是不可或缺的。 在這些場(chǎng)景中，用戶需要重復(fù)執(zhí)行相同的觀察操作，因此快速完成這些操作有助于提高工作效率。JSM-IT510 新增的“簡(jiǎn)單 SEM”功能，用戶可將 SEM 觀察所需的“手動(dòng)重復(fù)操作交給它”，從而更高效、更輕松地完成 SEM 觀察。
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JED-2300T 能譜儀
JED-2300T AnalysisStation是以“圖像觀察和分析”為基本理念的TEM/EDS集成系統(tǒng)。在分析數(shù)據(jù)過(guò)程中，自動(dòng)采集電鏡主機(jī)的倍率、加速電壓等參數(shù)，進(jìn)行數(shù)據(jù)管理。
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JEM-1400Flash 透射電子顯微鏡
JEM-1400Flash配備了高靈敏度sCMOS相機(jī)、超廣視野的蒙太奇系統(tǒng)以及光學(xué)顯微鏡圖像的聯(lián)動(dòng)功能，是一款新型的高通量、高分辨率 的120kV透射電子顯微鏡。
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JEM-Z200FSC 場(chǎng)發(fā)射冷凍電子顯微鏡
場(chǎng)發(fā)射冷凍電子顯微鏡 JEM-Z200FSC CRYO ARM 200標(biāo)配冷場(chǎng)發(fā)射電子槍、柱體內(nèi)能量過(guò)濾器（Ω能量過(guò)濾器）、液氮冷卻樣品臺(tái)和12位自動(dòng)樣品更換系統(tǒng)。新設(shè)計(jì)的Ω能量過(guò)濾器與無(wú)孔位相板的完美組合，進(jìn)一步提高了生物樣品的襯度。
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JEM-ARM200F NEOARM 原子級(jí)分辨率透射電子顯微鏡
“NEOARM” 標(biāo)配了日本電子獨(dú)自開發(fā)的冷場(chǎng)發(fā)射電子槍（Cold-FEG）和全新的高階球差校正器（ASCOR）。無(wú)論是在200kV的高加速電壓還是在30kV的低加速電壓下，均能實(shí)現(xiàn)原子級(jí)分辨率的觀察與分析。同時(shí)還配備了自動(dòng)像差校正系統(tǒng)，可以自動(dòng)進(jìn)行快速準(zhǔn)確的像差校正。新STEM成像技術(shù)（e-ABF法）可以更加簡(jiǎn)便地觀察到含有輕元素樣品的高清晰（襯度）圖像。
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JEM-Z300FSC 場(chǎng)發(fā)射冷凍電子顯微鏡
場(chǎng)發(fā)射冷凍電子顯微鏡JEM-Z300FSC (CRYO ARM? 300)配備了冷場(chǎng)發(fā)射電子槍、柱體內(nèi)能量過(guò)濾器(Ω能量過(guò)濾器)、側(cè)插式液氮冷卻樣品臺(tái)和自動(dòng)樣品交換系統(tǒng)，能夠在冷凍低溫下觀察生物大分子。樣品交換系統(tǒng)內(nèi)最多可以存儲(chǔ)12個(gè)樣品，可以任意取出和交換一個(gè)或數(shù)個(gè)樣品，能靈活地進(jìn)行測(cè)試排序。
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JEM-ACE200F 高效分析型電子顯微鏡
JEM-ACE200F將JEM-ARM200F和JEM-F200的硬件技術(shù)整合在一起，實(shí)現(xiàn)了高度穩(wěn)定性和高分辨率，以精煉的外觀設(shè)計(jì)呈現(xiàn)。該設(shè)備做成了操作流程菜單，按照該菜單，操作人員即使不直接操作設(shè)備也能采集到數(shù)據(jù)。
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